Microscopie Electronique en Transmission (MET)
Grâce aux techniques associées à la microscopie électronique en transmission il est possible d’accéder aux hétérogénéités à l’échelle nanométriques dans les matériaux poreux en complément de techniques macroscopiques (diffraction/ diffusion de rayons X, RMN , spectroscopies IR ou Raman ….). Les imageries HRTEM et STEM HAADF ainsi que les spectroscopies EELS et XEDS couplées ou non à l’imagerie STEM permettent d’accéder aux propriétés physico-chimique des matériaux poreux avec une résolution spatiale de l’ordre du nanomètre. Ces méthodes sont indispensables pour l’étude des systèmes hybrides tels que par exemple MOF/nanoparticules ou blend MOF/amorphe.
La technique de cryo-MET plus particulièrement développée au laboratoire pour l’observation de la matière molle ou de nano-objets en suspension permet de mieux appréhender la formation de gel ou la propiété de certaines argiles à capter des polluants par exemple. Cette technique ne passant par un stade deshydraté évite les eceuils de ce stade et l’on observe l’échantillon dans un état trés proches des conditions réelles.
Caractéristiques techniques principales
2 microscopes sont à disposition de RESPORE
• JEOL JEM 2100 LaB6
- Tension d’accélération: 60 —> 200 kV,
- caméra CCD Gatan USC1000 (2k x 2k)
- spectromètre XEDS Si(Li) résolution: 5 nm)
- imagerie TEM BF/DF/HREM (2.7Å)
- imagerie STEM BF
- imagerie cryo-TEM (90 K)
- système low dose (JEOL MDS)
- tomographie électronique, cryo-tomographie.
• JEOL JEM 2100F
- canon Schottky 200 kV,
- caméra Gatan USC4000 (4k x 4k)
- caméra Erlangshen (bas niveau de lumière)
- spectromètre XEDS Si(Li) résolution: < 1 nm),
- spectromètre EELS Gatan GIF 2001
- spectroscopie EELS (0.7 eV)
- imagerie EFTEM
- imagerie TEM BF/DF/HREM (1.9 Å)
- imagerie STEM HAAD/ADF/BF
- imagerie cryo-TEM (90 K)
- système low dose (MDS) de JEOL,
- tomographie, cryo-tomographie.
Porte échantillons :
simple tilt, double tilt et cryo (90K), high tilt