Profilomètres - Bruker DEKTAKXT

Banc de deux profilomètres permettant de réaliser des profils 2D ou cartographies 3D de surfaces solide sur des gammes d’amplitude de rugosité complémentaire.

(1) Profilomètre «Bruker - DEKTAKXT»  utilisant le déplacement d'un stylet au contact de la surface pour mesurer les hauteurs.

Caractéristiques: . Profilomètre adapté à l'étude de rugosités de faibles amplitudes (Amplitudes minimales dans les expériences réalisées: quelques nm - maximales: 1mm). . Résolution horizontale liée au rayon de la pointe (2 µm ou 12.5 µm dans la configuration actuelle). . Force de contact réglable (entre 0.03 et 15mg) ce qui permet de scanner des matériaux “mous”. . Vitesse de déplacement du stylet: entre 1 µm/s et 1.5 mm/s. . Taille maximum de l'échantillon: 200×200×50mm.

(2) Profilomètre utilisant  un capteur optique basé sur la technique d'imagerie confocale chromatique, associé à un banc de déplacement 2D mis au point au laboratoire.

Caractéristiques: . Plusieurs capteurs sont disponibles assurant une mesure dans une gamme allant de 4 à quelques millimètre de hauteur . Résolution spatiale liée à la taille du spot des capteurs : de 8.8µm à 40µm . Précision selon les capteurs : 40nm à 350nm. . Résolution du banc de déplacement : 6.25 µm . Taille maximale de la surface mesurable : 60cm×40cm

Préparation des échantillons

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C. Manquest : manquest(at)fast.u-psud.fr

L. Hattali: hattali(at)fast.u-psud.fr