Plateforme de diffraction des rayons X

La plateforme de diffraction des rayons X de l’IMPMC met à disposition les équipements dont elle dispose pour :

  1. la détermination de structures sur monocristaux et des études sur poudres (transitions de phase par exemple) en conditions atypiques de température (80 – 500 K sur monocristaux, 80 – 1400 K sur poudres) ou de pression (0 - 50 GPa) ;
  2. l’étude de composés mal cristallisés ou de nanomatériaux par l’analyse de la fonction de distribution de paires (PDF) sur microquantités et de 100 à 500 K ;
  3. des études de micro-diffraction ou micro-fluorescence X (faisceau X de 100 à 30 µm FWHM)
  4. des études de diffraction en faisceau sur poudre sur microquantités (< 1 mm3) en conditions ambiantes, ou en conditions de température et pression contrôlées, avec une résolution maximale de 0.08° FWHM en 2 theta.

Caractéristiques techniques principales

• 2 Diffractomètres Panalytical X’Pert Pro (poudre)

  • Anodes Co, Cu, Mo
  • Bragg Brentano ou transmission (capillaires)
  • Passeur d’échantillon (15 positions)
  • Environnement échantillons:
    • Anoxique
    • Haute température (—> 1400 K)
    • Basse température (80  —> 450 K)

• Diffractomètre Panalytical Empyrean (poudre)

  • Anodes Co, Cu, Mo, Ag
  • Bragg Brentano ou transmission (capillaires)
  • WAXS (Q —> 22 -Å–1)
  • Passeur d’échantillon (30 positions)
  • Environnement échantillons:
    • Anoxique
    • Haute température (—> 1400 K)
    • Basse température (80  —> 450 K)

• Diffractomètre 4-cercles Rigaku Xcalibur

  • Anode Mo
  • Monocristal / géométrie kappa
  • WAXS (Q —> 16 -Å–1)
  • Condiitions hautes pressions (CED)
  • Basse température (80 K)

• Diffractomètre à anode tournante Mo

  • Micro-faisceau (200 —> 35 µm)
  • Fluorescence
  • Monocristal / poudre
  • Condiitions hautes pressions (CED)